Y System Prawf Gwahanu Delwedd Eilaidd - fersiwn Lab
Mae'r System Prawf Gwahanu Delwedd Eilaidd yn system fesur annibynnol sy'n gweithredu'r canfod gwahanu delwedd yn ardal y camera ac ardaloedd eraill o'r gwydr.
Gall y fersiwn System-Lab Prawf Gwahanu Delwedd Uwchradd brofi gwerth gwahanu delwedd eilaidd pwyntiau pwrpasol ar wahanol onglau gwylio ar yr ongl gosod penodedig gyda chanllawiau system weledigaeth. Gall y system ddangos larwm uwchlaw'r terfyn, recordio, argraffu, storio ac allforio canlyniad y prawf.
Samplau
Amrediad maint sampl: 1.9 * 1.6m / 1.0 * 0.8m (wedi'i addasu)
Amrediad ongl llwytho sampl: 15 ° ~ 75 ° (Gellir addasu maint sampl, ystod ongl llwytho, ystod mesur, ac ystod symud system fecanyddol yn unol â'r gofynion.)
Amrediad ongl gwylio: Ongl lorweddol-15 ° ~ 15 °, Ongl fertigol-10 ° ~ 10 ° (wedi'i addasu)
Perfformiad
Ailadroddadwyedd prawf pwynt sengl: 0.4' (ongl gwahanu delwedd eilaidd <4'), 10% (4'≤ ongl gwahanu delwedd eilaidd <8'), 15% (ongl gwahanu delwedd eilaidd≥8')
Ongl llwytho sampl: 15 ° ~ 75 ° (wedi'i addasu)
Y System Prawf Gwahanu Delwedd UwchraddParamedrau
| Amrediad mesur: 80 '* 60 ' Minnau. gwerth: 2' Datrysiad: 0.1' | Ffynhonnell Golau: Laser Hyd tonnau: 532nm Pwer: <20mw |
VisionSystemParamedrau
| Ystod mesur: 1000mm * 1000mm | Cywirdeb safle: 1mm |
Paramedrau System Fecanyddol (wedi'i addasu)
| Maint sampl: 1.9 * 1.6m / 1.0 * 0.8m ； Dull gosod sampl: 2 bwynt uchaf, 2 bwynt is, cymesuredd echelinol. Sail ongl gosod: yr awyren a ffurfiwyd gan bedwar pwynt sefydlog o'r sampl Amrediad addasu ongl llwytho sampl: 15 ° ~ 75 ° | X: y cyfeiriad llorweddol Z: y cyfeiriad fertigol Pellter cyfeiriad X: 1000mm Pellter cyfeiriad Z: 1000mm Max. cyflymder cyfieithu: 50mm/eiliad Cywirdeb lleoli cyfieithu: 0.1mm |
